姓名：李鹏
邮箱：lipeng2020@bjut.edu.cn
通讯地址：北京市朝阳区平乐园100号北京工业大学西区基础楼
研究方向
1. 电磁无损检测与成像
2. 扫描探针显微镜
3. 体内医疗器械的磁定位
4. 微纳米机器人
个人简介
李鹏，1987年生，工学博士，副研究员，硕士生导师。2009年6月毕业于四川大学自动化专业，获工学学士学位。2015 年7月毕业于中国科学院沈阳自动化研究所机械电子工程专业，获工学博士学位。博士期间主要工作为扫描离子电导显微镜(SICM)系统的研制，并提出了一种SICM新型工作模式-同相电压调制模式。2015年7月至2020年6月于国家纳米科学中心中国科学院纳米标准与检测重点实验室任助理研究员，期间主要工作为多探针原子力显微镜系统研制及应用研究、亚十纳米探针刻蚀技术及器件工艺探索等。2020年6月至今，入职北京工业大学，主要从事电磁无损检测、微纳测量、体内磁定位等研究。先后主持国家自然科学基金青年项目和面上项目各1项，北京市自然科学基金面上项目1项，企事业委托横向项目2项。作为核心骨干，参与国家自然科学基金国家重大科研仪器研制项目1项。
目前担任IEEE纳米技术协会纳米计量学与表征委员会主席。以第一作者或通讯作者发表SCI论文10余篇，授权国内发明专利5项。
教育简历
1) 2009.09 至 2015.07, 中国科学院沈阳自动化研究所, 机械电子工程, 硕博连读
(2) 2005.09 至 2009.07, 四川大学, 自动化, 本科
工作履历
(1) 2023.11 至 今, 北京工业大学, 信息科学技术学院, 副研究员
(2) 2022.12 至 2023.11, 北京工业大学, 信息学部, 讲师
(3) 2020.06 至 2022.12, 北京工业大学, 材料与制造学部, 讲师
(4) 2015.07 至 2020.06, 国家纳米科学中心, 中国科学院纳米标准与检测重点实验室, 助理研究员
学术兼职
目前担任IEEE纳米技术协会纳米计量学与表征委员会主席
课程教学
本科生教学：《测控电路》
研究生教学：《仪器仪表电路设计与实训》
科研项目
1. 磁性薄膜残余应力的巴克豪森噪声显微成像方法，国家自然科学基金面上项目(62271015)，主持，2023.01-2026.12
2. 基于原子力显微镜的磁性薄膜巴克豪森噪声磁场测量方法，北京市自然科学基金面上项目(4232001)，主持，2023.01-2025.12
3. 亚十纳米探针刻蚀技术及器件工艺探索，国家自然科学基金青年项目(61604048)，主持，2017.01-2019.12
4. 髓内钉固定手术的钻头定位系统开发，企业委托横向项目，主持，在研
荣誉和获奖
2022年，指导学生参加第八届中国国际“互联网+”大学生创新创业大赛，荣获北京赛区一等奖。
2023年，指导学生参加“青创北京”2023年“挑战杯”首都大学生课外学术科技作品竞赛“青聚奇思”黑科技专项赛，荣获一等奖。
2023年，指导学生参加第九届中国国际“互联网+”大学生创新创业大赛，荣获北京赛区二等奖。
代表性研究成果
1. 先进原子力显微镜技术与仪器研制。研制了一套激光反馈式的多功能多探针原子力显微镜系统，具有亚纳米级的形貌测量能力，支持多达四探针的并行操作，可兼容热、电及磁等功能化探针，解决了传统原子力显微镜多物理场联合原位测量的难题，为探针刻蚀机理研究、新型低维器件制备乃至性能测试提供强有力的科研工具。相关成果发表于Ultramicroscopy, 2023, 248: 113712、Review of Scientific Instruments, 2021, 92(12): 123705。
2. 亚十纳米探针刻蚀技术及器件工艺研究。发展了一种基于低能场发射电子的新型扫描探针刻蚀技术及相配套的图形转移工艺，实现了亚十纳米硅器件的制备，并结合参数调控实验以及多类物性表征手段，深入研究了场致电子-光刻胶作用机理以及图形转移机制。相关成果发表于The Journal of Physical Chemistry C, 2023, 127(26): 12593-12598、Nanotechnology, 2018, 29(32): 325301。
主要论文论著
1. Wang N, Li P*, Li T, Wang Y, He C, Liu X. Quantitative characterization of tensile stress in electroplated nickel coatings with a magnetic incremental permeability sensor. Sensors and Actuators a: Physical, 2024, 368: 115082.
2. Wang X, He C, Li P, Liu X, Xing Z, Zhang Y, Li J. Micromagnetic and quantitative prediction of yield strength and tensile strength in DP590 steels based on ReliefF + Clustering feature selection method. Measurement Science & Technology, 2024, 35(1): 15119.
3. Wu Y, Xu L, Fan Y, Zhang Z, Liu W, Li P*, Qiu X. Formation of Anti-Etching Nanopatterns in Field-Emission Scanning Probe Lithography on Calixarene Films. The Journal of Physical Chemistry C, 2023, 127(26): 12593-12598.
4. Li P*, Shao Y, Xu K, Liu X. High-speed multiparametric imaging through off-resonance tapping AFM with active probe. Ultramicroscopy, 2023, 248: 113712.
5. Li P*, Wang X, Ding D, Gao Z, Fang W, Zhang C, He C, Liu X. Surface Decarburization Depth Detection in Rods of 60Si2Mn Steel with Magnetic Barkhausen Noise Technique. Sensors, 2023, 23(1): 503.
6. Yan S, Wang Y, Li P*, Gao Z, Wu B, Liu X. Comprehensive Indicators for Evaluating and Seeking Elasto-Magnetic Parameters for High-Performance Cable Force Monitoring. Sensors, 2022, 22(20): 7776.
7. Wang X, He C, Li P*, Liu X, Xing Z, Yan Z. Micromagnetic and Quantitative Prediction of Surface Hardness in Carbon Steels Based on a Joint Classification-Regression Method. Journal of Nondestructive Evaluation, 2022, 41(3).
8. Li P*, Li G. Advances in Scanning Ion Conductance Microscopy: Principles and Applications. Ieee Nanotechnology Magazine, 2021, 15(1): 17-25.
9. Li P*, Shao Y, Xu K, Qiu X. Development of a multi-functional multi-probe atomic force microscope system with optical beam deflection method. Review of Scientific Instruments, 2021, 92(12): 123705.
10. Zhang G, Li P*, Wei D, Hu K, Qiu X. Lateral force calibration for atomic force microscope cantilevers using a suspended nanowire. Nanotechnology, 2020, 31(47): 475703.
11. 闫孝姮, 孔繁会, 邵永健, 李鹏*. 非共振轻敲模式原子力显微镜的研究. 仪器仪表学报, 2020, 41(02): 70-77.
12. He X, Li P*, Liu P, Zhang X, Zhou X, Liu W, Qiu X. Nanopatterning on calixarene thin films via low-energy field-emission scanning probe lithography. Nanotechnology, 2018, 29(32): 325301.
13. 许可, 邵永健, 李鹏*, 裘晓辉. 多探针扫描探针显微镜研究进展与应用. 科学通报, 2018, 63(35): 3713-3726.
14. Xu K, Sun W, Shao Y, Wei F, Zhang X, Wang W, Li P*. Recent development of PeakForce Tapping mode atomic force microscopy and its applications on nanoscience. Nanotechnology reviews, 2018, 7(6): 605-621.
15. Li P*, Liu L, Yang Y, Wang Y, Li G. In-Phase Bias Modulation Mode of Scanning Ion Conductance Microscopy With Capacitance Compensation. IEEE Transactions On Industrial Electronics, 2015, 62(10): 6508-6518.
16. Li P*, Liu L, Yang Y, Zhou L, Wang D, Wang Y, Li G. Amplitude Modulation Mode of Scanning Ion Conductance Microscopy. Journal of Laboratory Automation, 2015, 20(4): 457-462.
17. Li P*, Liu L, Wang Y, Yang Y, Zhang C, Li G. Phase modulation mode of scanning ion conductance microscopy. Applied Physics Letters, 2014, 105(5): 53113.
